赫爾納供應(yīng)法國(guó)CORDOUAN粒度測(cè)試儀赫爾納供應(yīng)法國(guó)CORDOUAN粒度測(cè)試儀

公司簡(jiǎn)介：

在Cordouan Technologies 于 2007 年 9 月成立，他們分別來自電信行業(yè)和激光/應(yīng)用光學(xué)行業(yè)。那就是開發(fā)和工業(yè)化仍局限于研究實(shí)驗(yàn)室的。

CORDOUAN粒度測(cè)試儀主要產(chǎn)品：

CORDOUAN粒度測(cè)試儀

CORDOUAN顯微鏡

CORDOUAN粒度測(cè)試儀產(chǎn)品型號(hào)：

ACORN AREA

ACORN VASCO

CORDOUAN粒度測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

粒度范圍 粒徑：1 nm 至 1 μm

樣品濃度 0.0001% 至 10% w/%（取決于溶劑）

電池內(nèi)部溫控范圍 10°C 至 70°C；+/-0.1°C（取決于比色皿材料）

樣品室 樣品池：光學(xué)質(zhì)量 QS 圓柱形；10 毫米光程

取樣量 >400 μL

測(cè)量原理：光纖動(dòng)態(tài)光散射（DLS）

 測(cè)量配置：原位/非接觸式遠(yuǎn)程探頭

粒徑范圍：0.5 nm 至 10 µm*

濃度范圍：高 40% wt

測(cè)量時(shí)間：2秒至12小時(shí)

時(shí)間分辨率：低至 200 毫秒

CORDOUAN粒度測(cè)試儀產(chǎn)品應(yīng)用：

CORDOUAN粒度測(cè)試儀ACORN AREA是一款的儀器，用于測(cè)量分散在液體中的納米顆粒的表面積 。與表面面積技術(shù)相比，這種獲得的核磁共振方法具有許多優(yōu)勢(shì)。CORDOUAN粒度測(cè)試儀分散在液體中的顆粒的弛豫時(shí)間是兩個(gè)弛豫時(shí)間的平均值，以顆粒表面的液體量和液體中的液體量加權(quán)。這是顆粒表面積的直接測(cè)量方法。CORDOUAN粒度測(cè)試儀將 0.5 毫升放入管中。將其Acorn Area位于兩個(gè)永磁體之間的線圈內(nèi)。靜態(tài)、均勻的磁場(chǎng) B0 會(huì)使液體內(nèi)的質(zhì)子與 B0 對(duì)齊；此過程通常需要幾秒鐘。

CORDOUAN粒度測(cè)試儀THETIS 粒度分析儀Cordouan Technologies 的顆粒尺寸分析儀代表了納米顆粒尺寸分析 DLS 技術(shù)的進(jìn)展。這是有儀器可以測(cè)量膠體懸浮液中各向異性納米顆粒的長(zhǎng)度和寬度。

AMERIGO 粒度和 ZETA 電位分析儀，AMERIGO 是一款新的分析儀，用于表征納米顆粒懸浮液，CORDOUAN粒度測(cè)試儀它將粒度和 Zeta 電位測(cè)量功能結(jié)合在同一儀器中。它基于的動(dòng)態(tài)光散射 (DLS) 和激光多普勒電泳 (LDE) 技術(shù)，提供高分辨率、準(zhǔn)確和快速的測(cè)量。

CORDOUAN粒度測(cè)試儀這兩種技術(shù)提供了有關(guān)納米粒子溶液的互補(bǔ)信息：納米粒子的尺寸和配方的穩(wěn)定性。VASCO KIN 粒度分析儀，VASCO KIN 是一代時(shí)間分辨儀器， 結(jié)合原位非接觸式遠(yuǎn)程光學(xué)頭，可進(jìn)行的動(dòng)力學(xué)分析。CORDOUAN粒度測(cè)試儀它可實(shí)時(shí) 監(jiān)測(cè)納米粒子的合成、聚集或懸浮液的穩(wěn)定性。CORDOUAN粒度測(cè)試儀通過單 次 連續(xù)測(cè)量，VASCO KIN™ 可以獲取反應(yīng)的所有表征數(shù)據(jù)（尺寸分布、散射強(qiáng)度、相關(guān)圖等）。

VASCO 粒度分析儀，VASCO TM 納米顆粒尺寸分析儀是一種基于動(dòng)態(tài)光散射 (DLS) 的納米顆粒懸浮液和膠體表征的儀器。

CORDOUAN粒度測(cè)試儀在不透明/黑暗介質(zhì)以及稀釋溶液中檢測(cè)效率高，擴(kuò)大樣品濃度范圍減少樣品制備（無(wú)過濾或稀釋），多模態(tài)和復(fù)雜樣品分析無(wú)耗材CORDOUAN粒度測(cè)試儀耐溶劑樣品池，CORDOUAN粒度測(cè)試儀由硅棱鏡和背散射光檢測(cè)制成，雙厚度控制器 (DTC)：系統(tǒng)允許測(cè)量稀釋以及深色/濃縮樣品，無(wú)稀釋，沖洗器去除灰塵和氣泡。